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掃描電鏡測試SEM，x射線能譜測試EDS
周主任：
廣州中科檢測技術服務有限公司通過了中國國家認證認可監(jiān)督管理委員會和中國合格評定國家認可委員會的二合一（cma、cnas）實驗室認證認可，是的第三方檢測機構。為您出具認證報告！日立S-3400N掃描電鏡、德國布魯克Xflash Detector 5010能譜儀，固體樣品均可，樣品應經過真空干燥處理，不含水分或其它易揮發(fā)成分。樣品厚度不能高于10mm，樣品直徑200mm。測試條件：加速電壓0.3~30kv，放大倍率5~300000倍，分辨率SE 3nm@30kv、10nm@3kv；BSE 4nm@30kv。可以測量固體樣品、薄膜、微粒的表面結構，不導電的需噴金后測定。
掃描電鏡快速檢測，SEM現場檢測-國科控股資質檢測機構
掃描電鏡測試SEM可提供表面結構測試，進行樣品微觀分析，掃描式顯微鏡可放大到30萬倍以上，可測試項目廣泛。
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X射線能譜：入射電子和樣品進行非彈性碰撞可產生連續(xù)x光和特征x光，前者系入射電子減速所放出的連續(xù)光譜，形成背景決定zui少分析之量，后者系特定能階間之能量差，可藉以分析成分元素。
元素分析：
可以測試的金屬元素有： 鋰（li）、鈹（be）、 鈉（na）、鎂（mg）、鋁（al）、 鉀（k）、鈣（ca）、鈦（ti）、釩（v）、鉻（cr）、錳（mn）、鐵（fe）,鈷（co）、鎳（ni）、銅（cu）、鋅（zn）、鎵（ga）、...
特別推出紅外（F?IR）、DSC(差視熱量掃描儀)、TGA（熱失重分析）、TGA-FIR聯用、DMA動態(tài)力學分析儀、塑料導熱系數、塑料配方剖析未知物成分分析、激光粒度儀、TEM（透射電鏡）、SEM（掃描電鏡）的測試。
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