XRD分析-中科檢測

XRD分析是通過測量材料內(nèi)原子平面對X射線的衍射，來研究和量化材料的結(jié)晶性質(zhì)。它不僅能夠確定材料的晶體結(jié)構(gòu)、相組成及微觀結(jié)構(gòu)變化，還能夠測量晶體含量、晶格平面之間的間距以及晶體的擇優(yōu)生長等信息。XRD分析在材料科學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、制藥業(yè)、法醫(yī)學(xué)以及玻璃工業(yè)等多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

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XRD分析范圍

(1)晶體結(jié)構(gòu)?：通過分析衍射圖樣來確定材料的晶體結(jié)構(gòu)，包括晶格常數(shù)、晶胞參數(shù)、晶體對稱性等信息。

(?2)晶體相組成?：通過分析衍射圖樣來確定材料中的晶體相組成，即不同晶體結(jié)構(gòu)的相對含量。

(3)?晶體取向?：測定晶體在材料中的取向信息，包括晶體的取向度和取向分布。

(?4)晶體缺陷?：通過分析衍射圖樣來研究材料中的晶體缺陷，如晶格畸變、位錯等。

?(5)晶體尺寸和形態(tài)?：通過研究衍射峰的形狀和寬度來估計晶體的尺寸和形態(tài)。

(6)?物相分析?：用于物質(zhì)的物相分析，確定材料的物相組成和晶體結(jié)構(gòu)。

(?7)定性分析和定量分析?：通過XRD圖譜進行物質(zhì)的定性分析和定量分析。

(?8)藥物晶型分析?：用于新藥研發(fā)時的化合物定性分析，確定藥物的晶型和結(jié)晶情況。

XRD分析方法和步驟

(1)?峰的識別?：首先，需要找到圖譜上的所有峰，并確定它們的2θ位置以及相對強度。

(2)?相識別?：根據(jù)峰的位置，使用標(biāo)準(zhǔn)的XRD數(shù)據(jù)庫來匹配相位。每種晶體結(jié)構(gòu)都有XRD峰位特征。

(3)?定量分析?：如果樣品中有多種相，可以通過峰的強度來估計各相的質(zhì)量分?jǐn)?shù)。這需要通過軟件擬合峰的形狀整合峰面積，一般假設(shè)服從瓊斯矩陣?yán)碚摗?/p>

(4)?嵌入分析?：如果有非晶物質(zhì)，也可以估計晶粒度的大致范圍。根據(jù)施萊爾公式粗略擬合峰寬度。

(5)?應(yīng)力分析?：峰位的細微移動反映了樣品的應(yīng)力狀態(tài)。峰位偏移量與應(yīng)力之間也有定量關(guān)系。

(6)?優(yōu)選取向分析?：比較同一相在不同晶面反射峰的相對強度，可以判斷是否存在優(yōu)選取向。實際應(yīng)用中可能需要更復(fù)雜的擬合，結(jié)合樣品的已知信息來綜合判斷。

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